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LAP-S800噴霧全自動(dong)激光粒度分析儀(yí)
産品名稱:LAP-S800噴霧激光(guāng)粒度分析儀
技術标準:ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008
測試範圍(wei): 0.5μm~800μm
探(tàn)測單元:66
激光類型:進(jìn)口光纖半導體激(jī)光器
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LAP-S800一體(ti)式機構設計,适用(yòng)範圍更加寬泛。性(xing)能更加穩定、量程(chéng)更🐕大👈、适應各種複(fu)雜的測試環境,同(tong)時LAP-S800進行了防塵處(chù)理。噴霧激光(guang)粒度分析儀
LAP-S800噴霧激光粒(li)度分析儀主要性(xing)能特點:
LAP-S800一體式結構設計(jì):LAP-S800采用了(le)一體式結構結構(gòu),性能穩定,zui大測試(shì)區域爲340mm,保💰證了儀(yi)器在不同環境中(zhong)适用;一體式結構(gòu)會更🍉加穩定,測量(liang)結🈲果不受環境影(ying)響,LAP-S800*的加入了光路(lù)自動對中系統,任(ren)何時候都能保證(zheng)儀器*測試,LAP-S800還可以(yi)垂直安裝并且能(néng)180度旋轉測試。
*的光路設計: LAP-S800采用了夫琅(lang)禾費衍射原理和(he)典型的平行光路(lu)設計,配👣備了大功(gōng)率的半導體激光(guāng)器;*的高密度探測(cè)單元,讓LAP-S800擁有了*的(de)小🤩顆粒測試能力(li),LAP-S800在0.5μm~800μm内無縫測試。同(tóng)時LAP-S800又☂️加入了光路(lu)自動調整裝置,方(fang)便操作的同時又(you)延長了儀器的适(shi)用壽命。
大功(gong)率半導體激光器(qì):LAP-S800采用了進口(kou)大功率光纖半導(dao)體激光器,增強了(le)儀器的分辨能力(li),使小顆粒也無處(chù)藏身。您也可以選(xuǎn)擇氦氖氣體激🤞光(guang)器(氦氖激光器質(zhi)保少一年)。
激光器(qi)功率監測及自動(dòng)調整:*采用了恒功(gōng)率激光器,實時對(dui)激光功率進行檢(jiǎn)測并自動調整功(gōng)能,有效避免長期(qī)使用造⭐成的💋激光(guāng)功率衰減的問題(tí)。同🏒時采用了恒流(liu)恒壓高濾波激光(guāng)電源有效延長了(le)激光器壽命,正常(chang)使用達3萬小㊙️時以(yǐ)上。噴霧激光(guang)粒度分析儀
自動對中:自(zì)行研制的自動對(duì)中系統包括步進(jìn)電機、精密導軌、精(jīng)密控制器以及軟(ruan)件系統組成,zui小步(bu)距1微米,保證激光(guāng)束焦點始終從探(tàn)測器中心點穿過(guo),提高測試結果的(de)準确性以及測試(shi)的重複性🔆。自動對(duì)中系🔞統是易仕特(te)所有型号激光粒(lì)度儀的标準配置(zhì)。噴霧激光粒(lì)度分析儀
超(chāo)寬量程:LAP-S800雖然是一體式設(she)計,但是量程量程(chéng)達到了驚人的0.5μm~800μm。
強(qiáng)大的分析軟件:強(qiáng)大的分析軟件可(ke)以随時記錄所有(you)激光束的内所有(you)霧滴的粒度分布(bù)。在激光束内移動(dong)噴💋霧測試結果可(ke)以被連續記錄和(he)統計分析。
主(zhǔ)要技術參數:
規格型号 | LAP-S800 | |
執行标準 | ISO13320-1:1999;GB/T19077.1-2008 | |
測試範(fan)圍 | 0.5μm-800μm | |
探測器通道數 | 66 | |
準确性誤(wu)差 | <1%(國家(jia)标準樣品D50值) | |
重複性誤差 | <1%(國家标準樣(yang)品D50值) | |
進樣方(fang)式 | 開放式進(jìn)樣 | |
儀器結構(gòu) | 一體式 | |
激光器參數 | 進口光纖輸出大(dà)功率激光器 λ= 650nm, 功率(lǜ)1-40mw可調 | |
關鍵參(cān)數 | 測量區 | 儀器100mm到340mm區間内(nèi)範圍可正常測試(shi) |
鏡頭 | 進(jìn)口高性能鏡頭 | |
鏡頭保護 | 氣幕保護 | |
進(jìn)樣方式 | 噴射(shè)(包含霧滴和固體(tǐ)粉末) | |
自動對(dui)中 | 儀器自動(dòng)調整光路,電腦軟(ruǎn)件一鍵自動完成(cheng)。 | |
軟件功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分(fèn)布和對數正态分(fèn)布、按目分級統👌計(ji)模式等,滿足不同(tong)行業對被測樣品(pin)粒度統計方式的(de)不同❓要求 |
統(tong)計方式 | 體積(ji)分布和數量分布(bu),以滿足不同行業(yè)對于粒度分布的(de)不同統計方式 | |
統計比較 | 可針對多條測試(shì)結果進行統計比(bǐ)較分析,可明顯對(duì)比不同批次樣品(pin)、加工前後樣品以(yǐ)及不同時間測試(shì)結果的差異,對工(gōng)業原料質量控制(zhi)具有很強📧的實際(ji)意義 | |
自行DIY | 用戶自定義要(yao)顯示的數據,根據(ju)粒徑求百分比、根(gen)據百分比🧑🏽🤝🧑🏻求粒徑(jìng)或根據 | |
顯示(shi)模闆 | 粒徑區(qu)間求百分比,以滿(man)足不同行業對粒(lì)度測試的表🥰征方(fāng)式。徑距、一緻性、區(qu)間累積等等 | |
測試報告 | 測(ce)試報告可導出Word、Excel、圖(tú)片(Bmp)和文本(Text)等多種(zhǒng)形式的文檔,滿足(zú)在任🈲何場合下查(cha)看測試報告以及(jí)科研文章中引用(yong)測試結果 | |
多(duo)語言支持 | 中(zhōng)英文語言界面支(zhī)持,還可根據用戶(hu)要求嵌入其他🌈語(yǔ)言界面。 | |
操作(zuò)模式 | 電腦操(cao)作 | |
測試速度(du) | <1min/次 | |
重量 | 25Kg | |
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