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噴霧(wu)全自動激光粒(lì)度分析儀

更新(xin)時間：2025-12-14

簡要描述(shù)：

LAP-S2000噴霧全自動激(ji)光粒度分析儀(yi)
我公司視“打造(zào)國産穩定的激(jī)光粒度儀器"爲(wèi)己任，以科技創(chuang)品牌、質量闖市(shì)場、信譽赢天下(xià)爲方針，全🚶‍♀️力打(da)造超穩定、高性(xìng)🤞價比的國産激(jī)光粒度儀器。

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LAP-S2000噴(pen)霧全自動激光粒度分析(xī)儀

我公司(sī)視“打造國産穩(wen)定的激光粒度(du)儀器"爲己任，以(yǐ)科🚶‍♀️技✂️創品牌、質(zhi)量闖市場、信譽(yu)赢天下爲方針(zhēn)，全力打造超穩(wen)定、高性價比的(de)國産激光粒度(du)儀器。

LAP-S2000采用分體式設(shè)計，适用範圍更(gèng)加寬泛。性能更(geng)加穩定💃🏻、量程更(gèng)大、适應各種複(fu)雜的測試環境(jìng)，同時LAP-S2000進行(háng)了防塵處理。

LAP-S2000噴(pen)霧激光粒度分(fen)析儀主要性能(néng)特點：

*的光(guāng)路設計： LAP-S2000采用了(le)夫琅禾費衍射(she)原理和典型的(de)平行光路設計(ji)，配備了大🍉功率(lǜ)的半導體激光(guang)器；*的高密度探(tàn)測單元，讓LAP-S2000擁有(you)了*的小顆粒測(ce)試能力，LAP-S2000在1μm～2000μm内無(wu)縫測試。同時LAP-S2000又(yòu)加入了光路自(zi)動調整裝置，方(fāng)便操作的同時(shi)又延🔱長㊙️了儀器(qi)的适用壽命。

大(dà)功率半導體激(ji)光器：LAP-S2000采用了大(dà)功率的半導體(tǐ)激光器，增強了(le)儀器的分辨能(neng)力☀️，使小顆粒也(yě)無處藏身。

光路(lù)自動校對：LAP-S2000在噴(pēn)霧粒度儀中加(jia)入了自動對中(zhong)功能，LAP-S2000加入的光(guang)路自動調整系(xì)統，保證了儀器(qì)測量的穩定性(xing)、準确性。同時大(da)量減少操作者(zhe)的工作強度。

進(jin)口的鏡頭：LAP-S2000采用(yòng)了日本佳能作(zuo)爲主鏡頭，畸變(bian)小成像高，接收(shōu)端采用了直徑(jìng)150毫米大口徑長(zhǎng)焦距鏡頭，顆粒(lì)探測更加準确(què)。

超寬量程：LAP-S2000量程(chéng)達到了1μm～2000μm。

強大的分(fen)析軟件：強大的(de)分析軟件可以(yǐ)随時記錄所有(you)激光束的内所(suǒ)有霧滴✌️的粒度(du)分布。在激光束(shù)内移動噴霧測(cè)試結果可以被(bei)連❗續記錄和統(tong)計分析。

主要技(ji)術參數：

規(gui)格型号		LAP-S2000
執(zhi)行标準		ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008
測試範(fàn)圍		1μm-2000μm
探測器通道(dao)數		86
準确性(xing)誤差		<1%（國家标準樣品(pin)D50值）
重複性(xìng)誤差		<1%（國家标準樣品(pǐn)D50值）
進樣方(fāng)式		開放式(shì)
光路對中(zhong)方式		自動(dòng)對中，儀器自動(dòng)調整光路，電腦(nǎo)軟件一鍵自動(dòng)完成
操作(zuo)模式		軟件(jian)操作、自動測試(shi)
儀器結構(gòu)		分體式或(huò)導軌式可選
分體式導軌(gui)（選配）		分體(tǐ)式儀器，測試區(qu)域在6米以内可(ke)以選配導軌，光(guang)路♉更加穩定
激光器參數(shu)		LD泵浦(pu)激光器 λ= 532nm, 功(gong)率1-40mw可調
關(guān)鍵參數	測(ce)量區	分體(ti)式：儀器0.1到10米範(fàn)圍可正常測試(shi)
		導軌式：儀(yi)器0.1到6米範圍可(ke)正常測試
	鏡頭	進口(kǒu)佳能高性能鏡(jing)頭
	鏡頭保(bao)護	氣幕氣(qì)流式雙重保護(hù)
	進樣方式(shi)	噴射（包含(hán)霧滴和固體粉(fen)末）
操作模(mo)式		電腦操(cao)作
尺寸		發射端尺寸(cun)：950320670 接收端尺(chi)寸：250360520
測試速(sù)度		<1min/次(cì)
重量		25Kg

軟件功能(néng)
分析模式(shì)	包括自由(you)分布、R-R分布和對(duì)數正态分布、按(an)目分級統計🔴模(mo)式等，滿足不同(tóng)行業對被測樣(yang)品粒度統計方(fāng)式的不同🛀要求(qiú)
統計方式(shi)	體積分布(bù)和數量分布，以(yǐ)滿足不同行業(ye)對于粒度💚分布(bu)♌的不同統計方(fang)式
統計比(bi)較	可針對(dui)多條測試結果(guo)進行統計比較(jiao)分析，可明顯對(duì)比不同批次樣(yàng)品、加工前後樣(yàng)品以及不同時(shi)間測試結果的(de)差異，對工業原(yuan)料質量控制具(jù)有很強的實際(jì)意義
自行(hang)DIY	用戶自定(ding)義要顯示的數(shù)據，根據粒徑求(qiú)百分比、根👄據百(bai)分⛷️比求粒徑或(huo)根據
顯示(shì)模闆	粒徑(jing)區間求百分比(bǐ)，以滿足不同行(háng)業對粒度測試(shi)的表征📧方式。徑(jìng)距、一緻性、區間(jian)累積等等
測試報告	測試報告可導(dao)出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本(běn)（Text）等多種形式的(de)文檔，滿足在任(ren)☔何⚽場合下查看(kan)測試報告以及(jí)科研文章中引(yǐn)用測試結果
多語言支持(chí)	中英文語(yu)言界面支持，還(hái)可根據用戶要(yào)求嵌入其他語(yǔ)言界面。