更(gèng)新時間(jiān):2025-12-13
冷熱(re)沖擊試(shì)驗箱(兩(liǎng)箱式)廣(guang)泛用于(yu)電子電(diàn)器零組(zǔ)件、自動(dong)化零部(bù)件、通訊(xun)組件、汽(qi)車配件(jian)、金屬、化(huà)學材料(liào)、塑料等(děng)行業,國(guo)防工業(yè)、航天、兵(bīng)工業、BGA、PCB基(ji)扳、電子(zi)芯片IC、半(ban)導體陶(tao)磁及高(gāo)分子材(cái)料之物(wù)理牲變(biàn)化,測試(shi)其材料(liao)對高、低(di)溫的反(fǎn)複抵拉(la)力及産(chǎn)品于熱(rè)脹冷縮(suō)産出的(de)化學變(biàn)化或物(wu)理傷害(hai)
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一、産(chan)品概況(kuang)
本系列(liè)冷熱沖(chong)擊試驗(yan)箱(兩箱(xiāng)式)主要(yao)用于測(cè)試材料(liao)對高溫(wēn)或極低(dī)溫的抵(dǐ)抗力,這(zhè)種🌏情況(kuang)類似🙇♀️于(yú)不
連續(xu)地處于(yú)高溫或(huò)低溫中(zhong)的情形(xíng),冷熱沖(chong)擊試驗(yan)能使各(ge)種☎️物品(pǐn)在最短(duan)的時間(jian)内完成(chéng)測試。熱(re)震
中産(chan)生的變(biàn)化或物(wù)理傷害(hài)是熱脹(zhang)冷縮改(gǎi)變或其(qi)它物理(lǐ)性值的(de)改變而(er)引起的(de),采用PID系(xi)統,各
類(lei)産品才(cái)能獲得(de)信賴。熱(rè)震的效(xiào)果包括(kuo)成品裂(liè)開📱或破(pò)層及位(wèi)移等所(suǒ)引起的(de)電化學(xue)變化,
PID系(xì)統的全(quán)數字元(yuán)自動控(kong)制,将使(shi)您操作(zuo)簡易。
冷(leng)熱沖擊(ji)試驗箱(xiang)(兩箱式(shì))用途:
冷(leng)熱沖擊(ji)試驗機(jī)廣泛用(yòng)于電子(zǐ)電器零(ling)組件、自(zi)動化零(líng)部件、通(tōng)訊組件(jian)、汽車配(pèi)件、金屬(shu)、化學材(cái).
料、塑料(liao)等行業(yè),國防工(gong)業、航天(tiān)、兵工業(ye)、BGA、 PCB 基扳、電(dian)子芯片(piàn)IC、半導體(ti)陶磁及(jí)高分子(zǐ)材
料之(zhī)物理牲(sheng)變化,測(cè)試其材(cai)料對高(gāo)、低溫的(de)反複抵(di)拉❄️力📧及(jí)産品于(yu)熱脹冷(leng)縮産出(chū)的化學(xue)變化或(huò)物理傷(shang)害,
可确(què)認産品(pǐn)的質量(liang),從精密(mì)的IC到重(zhòng)機械的(de)組件,可(ke)作爲其(qí)産品改(gǎi)進的依(yi)據或參(cān)考。



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