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LAP-S1000噴霧全(quan)自動激光粒度(dù)分析儀
産(chǎn)品名稱:LAP-S1000噴霧激光粒(lì)度測定儀
技術标準:ISO13320-1:1999,GB/T19077.1-2008
測試(shì)範圍: 1μm~1000μm
探測單元(yuán):66
激光(guang)類型:進口(kǒu)光纖半導體激(ji)光器
首先(xiān)感謝您對廈門(men)易仕特儀器有(you)限公司的關注(zhù)!
LAP-S1000采用(yòng)分體式設計,适(shi)用範圍更加寬(kuan)泛。性能更加穩(wěn)⛷️定、量程更大、适(shì)應各種複雜的(de)測試環境,同時(shi)LAP-S1000進行了防塵處(chù)理。
LAP-S1000噴(pēn)霧激光粒度分(fèn)析儀主要性能(néng)特點:
LAP-S1000采用了分體式(shì)結構,可測試遠(yuan)距離樣品,LAP-S1000采用(yòng)了大平🏃台,即使(shi)
一體式使(shǐ)用也能滿足0.1米(mǐ)到10米的距離上(shàng)正常測試
*的光路設計:LAP-S1000采用了(le)夫琅禾費衍射(she)原理和典型的(de)平行光路設計(jì),配備了大功率(lǜ)的半導體激光(guāng)器;*的高密度探(tàn)測單元,讓LAP-S1000擁有(yǒu)了*的小顆粒測(cè)試能力,LAP-S1000在1μm~1000μm内無(wú)縫測試。同時LAP-S1000又(yòu)加入了光路自(zì)動調整裝置,方(fāng)便操作的同時(shi)又延長了儀器(qi)的适用壽命。
大功率半導(dao)體激光器:LAP-S1000采用了大(dà)功率的半導體(ti)激光器,增強了(le)儀器的分辨能(néng)力,使小顆粒也(ye)無處藏身。
光路自動校對(duì):LAP-S1000在噴(pen)霧粒度儀中**加(jiā)入了自動對中(zhong)功能,LAP-S1000加入的光(guāng)路自動調整系(xì)統,保證了儀器(qi)測量的穩定性(xìng)、準确性。同♊時大(dà)量減🌈少操作者(zhe)的工作強度。
進口鏡頭:LAP-S1000采用了(le)日本佳能作爲(wèi)主鏡頭,畸變小(xiǎo)成像高,接收端(duan)采用了直徑150毫(hao)米大口徑長焦(jiāo)距鏡頭,顆粒探(tàn)測更加。
超(chao)寬量程:LAP-S1000量程達到了(le)1μm~1000μm。
輔光定位(wèi):LAP-S1000加入了輔(fu)光定位功能,定(dìng)位時發射端兩(liang)束激光同時👄發(fā)🛀出🤞,接🐪收端雙點(diǎn)吻合後接收端(duan)即可啓動光路(lu)自動調整系統(tǒng),大大📧簡化🙇🏻了調(diào)整難度。噴(pen)霧激光粒度分(fen)析儀
強大(da)的分析軟件:強大的分析(xī)軟件可以随時(shí)記錄所有激光(guāng)束的内所🈲有✌️霧(wu)滴🐪的粒度分布(bù)。在激光束内移(yí)動噴霧測試結(jie)果可以被連🚶♀️續(xu)記錄和統計分(fèn)析。
主要技(jì)術參數:
規(gui)格型号 | LAP-S1000 | |
執行标準 | ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008 | |
測(ce)試範圍 | 1μm-1000μm | |
探測器(qi)通道數 | 66 | |
準确性誤差(cha) | <1%(國家(jia)标準樣品D50值) | |
重複性誤差(cha) | <1%(國家(jiā)标準樣品D50值) | |
進樣方式 | 開放式進樣(yang) | |
儀器結構(gòu) | 一體式或(huo)分體式可選 | |
分體式導軌(guǐ)(選配) | 分體(tǐ)式儀器,測試區(qū)域在3米以内可(ke)以選配導軌 | |
激光器參數(shu) | 進口光纖(xian)輸出大功率激(ji)光器 λ= 650nm, 功率1-40mw可調(diao) | |
關鍵參數(shù) | 測量區 | 分體式:儀器(qì)0.1到10米範圍可正(zheng)常測試 |
一(yi)體式:儀器100mm到340mm | ||
鏡頭 | 佳(jiā)能高性能鏡頭(tóu) | |
鏡頭保護(hu) | 氣幕保護(hù) | |
進樣方式(shi) | 噴射(包含(hán)霧滴和固體粉(fen)末) | |
自動對(duì)中 | 儀器自(zì)動調整光路,電(dian)腦軟件一鍵自(zi)動完成。 | |
軟(ruan)件功能 | 分(fen)析模式 | 包(bao)括自由分布、R-R分(fèn)布和對數正态(tài)分布、按目分級(ji)統計模式等,滿(mǎn)足不同行業對(dui)被測樣品粒度(du)統計方式的不(bú)同要求 |
統(tong)計方式 | 體(ti)積分布和數量(liang)分布,以滿足不(bú)同行業對于粒(lì)度分布的不同(tóng)統計方式 | |
統計比較 | 可針對多條測(cè)試結果進行統(tǒng)計比較分析,可(kě)明顯對比不同(tong)批♉次樣品、加工(gong)前後樣品以及(ji)不同時間測試(shi)⛱️結果的差異,對(dui)工業原料質量(liàng)控制具有很強(qiang)的實際意義 | |
自行DIY | 用(yòng)戶自定義要顯(xian)示的數據,根據(ju)粒徑求百分比(bi)、根👄據百分比求(qiu)粒徑或根據 | |
顯示模闆 | 粒徑區間求(qiú)百分比,以滿足(zú)不同行業對粒(li)度測試的表征(zhēng)方⛷️式。徑距、一緻(zhi)性、區間累積等(deng)等 | |
測試報(bào)告 | 測試報(bào)告可導出Word、Excel、圖片(piàn)(Bmp)和文本(Text)等多種(zhǒng)形式的文檔,滿(man)足在任何場合(hé)下查看測試報(bao)告以及科研文(wen)章中引用測試(shi)結果 | |
多語(yǔ)言支持 | 中(zhong)英文語言界面(miàn)支持,還可根據(ju)用戶要求嵌入(rù)其他語言界面(miàn)。 | |
操作模式(shi) | 電腦操作(zuò) | |
測試速度(dù) | <1min/次 | |
重量 | 25Kg | |
廈門易仕特(tè)儀器有限公司(sī)
工廠地址:福建(jiàn)省廈門市同安(ān)區西柯鎮美人(ren)山中路288号廠房(fang)
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