更新(xīn)時間:2025-12-16
磨粉(fen)激光粒度(du)儀供應廠(chang)家
LAP-DW2000激光粒(li)度儀廣泛(fàn)應用于水(shui)泥、陶瓷、藥(yào)品、乳液、塗(tu)料、染👨❤️👨料、顔(yá)料、填料、化(huà)工産品、催(cuī)化劑、鑽井(jǐng)泥漿、磨料(liao)、潤滑劑、泥(ni)砂、粉塵、細(xì)胞、細菌🌍、食(shí)品、添加劑(ji)、農藥、石墨(mò)、感光材料(liao)、燃料、墨👣汁(zhi)、金屬與非(fei)金屬粉末(mò)、碳酸鈣、高(gāo)嶺土、水煤(mei)漿、鋁銀漿(jiang)及其他粉(fěn)狀物料。
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磨(mó)粉激光粒(li)度儀供應(yīng)廠家
磨粉按照(zhào)研磨粉顆(ke)粒的尺寸(cùn)大小來區(qū)分的,一般(bān)♉被分✉️爲磨(mó)粒、磨粉、微(wei)粉和精粉(fen)四種。粉體(tǐ)樣品中不(bú)同粒徑顆(kē)粒占顆粒(li)總量的百(bǎi)分數。有區(qū)間分布和(hé)累計分布(bu)兩種形式(shì)。區間分布(bu)又稱爲微(wēi)分分布或(huo)頻率分布(bu)㊙️,它表示一(yi)系列粒徑(jìng)區間中顆(kē)📱粒的百分(fen)含量。累計(ji)分布也叫(jiào)積分分布(bu),它表示小(xiǎo)于或大于(yu)某粒徑顆(ke)粒的百分(fèn)含量。磨粉(fěn)激光粒度(du)儀是一款(kuǎn)用于檢測(ce)研磨粉顆(kē)粒粒徑及(jí)粒徑分布(bu)的精密儀(yí)器,該儀器(qi)具有測試(shì)❄️速度快、測(cè)試範圍寬(kuān)、重複性和(he)真實性好(hao)、操作簡便(bian)等優點。
磨粉激(ji)光粒度儀(yi)供應廠家(jiā)
磨粉(fěn)激光粒度(dù)儀适用範(fàn)圍:
LAP-DW2000激(ji)光粒度儀(yi)廣泛應用(yong)于水泥、陶(táo)瓷、藥品、乳(rǔ)液、塗料🐪、染(rǎn)料、顔料、填(tián)料、化工産(chǎn)品、催化劑(ji)、鑽井泥漿(jiang)、磨料、潤滑(hua)劑、泥砂、粉(fen)塵、細胞、細(xì)菌、食品、添(tiān)加劑、農藥(yao)、石墨、感光(guang)材料、燃料(liào)、墨📱汁、金屬(shu)與非金屬(shǔ)粉末、碳酸(suān)鈣、高嶺土(tu)、水煤漿♍、鋁(lǚ)銀漿及其(qí)他粉狀👣物(wù)料。
LAP-DW2000幹(gan)濕一體激(ji)光粒徑檢(jiǎn)測儀主要(yao)性能特點(diǎn):
*的光(guang)路設計:LAP-DW2000激光粒(li)度儀采用(yong)會聚光傅(fu)立葉變換(huan)測試技術(shù),保證在👅較(jiao)短的焦距(jù)獲得大量(liang)程,有效提(tí)高儀器的(de)分辨能🌈力(li);*的高密度(dù)探測單元(yuan),讓LAP-DW2000擁(yong)有了*的小(xiao)顆粒測試(shì)能力,高密(mì)度探測單(dān)元的使用(yong)讓LAP-DW2000具(jù)有*的全量(liang)程無縫測(ce)試能力。
幹、濕一(yī)鍵切換:幹濕切(qiē)換将由儀(yí)器自動完(wán)成,全部過(guò)程10S内(nei)完成。
主探測器(qi)Z向自(zi)動移動:幹濕切(qie)換後因光(guang)學玻璃的(de)介入會導(dǎo)緻會聚光(guāng)焦距變化(huà),LAP-DW2000激光(guang)粒度儀會(hui)根據幹、濕(shi)法的不同(tóng)自動調整(zhěng)主探測器(qì),使🙇♀️主探測(cè)器始終在(zài)焦平面上(shàng)(實現光路(lu)三維❄️自動(dong)🧑🏾🤝🧑🏼校對)。
防塵、防震(zhen)設計:儀器整體(ti)進行了密(mì)封設計,大(dà)幅提高了(le)内部元器(qi)件✊使用壽(shou)命。*的懸浮(fu)式結構能(neng)有效避免(miǎn)外界震動(dong)對儀器的(de)影響,使測(cè)👣試結❓果更(geng)穩定可靠(kao)。
強防(fáng)腐設計(選(xuan)配):根(gen)據客戶實(shi)際需求可(kě)以配備耐(nài)酸、耐堿、耐(nai)油(含一切(qiē)溶🔞劑油)、耐(nài)有機溶劑(jì)。
進口(kou)氦-氖(nǎi)激光器:LAP-DW2000激光粒(lì)度儀采用(yong)了高穩定(dìng)、長壽命的(de)進口氦-氖激光(guāng)器,優良的(de)單色性及(ji)穩定性讓(ràng)LAP-DW2000擁有(you)了*的測試(shì)重複性(标(biao)配爲國産(chan))。
光路(lù)自動校對(dui):自動(dòng)對焦系統(tong),儀器可自(zi)動校對光(guāng)路。
*微(wēi)量循環系(xi)統:整(zhěng)個分散循(xun)環系統進(jìn)行了優化(hua)設計,分散(san)介質大于(yu)150毫升(sheng)即可循環(huán)測試,真正(zheng)達到了微(wei)量循環測(cè)試;優化的(de)🙇♀️設計保證(zheng)排水後無(wu)廢液殘留(liu),保證了下(xia)一次測試(shì)💃結果的準(zhun)确性。
超寬量程(cheng):LAP-DW2000激光(guāng)粒度儀量(liàng)程達到了(le)0.1μm~2000μm。
免排(pái)氣泡設計(jì):全新(xīn)的設計使(shi)整個測試(shì)過程不會(huì)有氣泡進(jìn)入測試樣(yàng)品窗,避免(mian)了氣泡影(ying)響。
樣(yàng)品無殘留(liú)設計:儀器管道(dào)及排水結(jié)構進行了(le)優化設計(ji),儀器管道(dao)⭐、循環泵内(nèi)無積液殘(cán)留,避免對(duì)下一次測(ce)試數據的(de)影響;幹法(fǎ)測試同樣(yàng)進行了無(wu)殘留設計(jì)。
幹法(fǎ)計算機遠(yuǎn)程控制喂(wèi)料:LAP-DW2000幹(gàn)法測試時(shí)測試人員(yuán)可通過電(dian)腦遠端控(kòng)制喂料速(sù)度,大🥵大減(jiǎn)少了測試(shi)人員的勞(lao)動強度。
樣品窗(chuāng)快換裝置(zhi):全新(xīn)設計的樣(yàng)品窗快換(huan)裝置,使樣(yàng)品窗更換(huàn)更方便快(kuài)捷。
幹(gan)濕一體激(jī)光粒徑檢(jiǎn)測儀*的濕(shi)法循環分(fen)散系統❌,保(bao)🌈證顆粒保(bǎo)證測試過(guò)程中無顆(ke)粒沉積現(xian)象,測試完(wán)畢後無廢(fei)液積存設(shè)計,保證了(le)下一次測(cè)試精度,使(shi)測試結果(guo)更真實可(ke)靠;幹法分(fen)散采用力(li)了直線噴(pen)射分散設(shè)計,樣品經(jing)過高壓🌍氣(qì)體分散後(hou)垂直向👈後(hòu)方飛行,避(bì)免了待測(ce)小顆粒的(de)二次團簇(cu),同時采取(qu)了管道無(wú)殘留設計(jì),保證了測(ce)試不同樣(yang)品⛷️的準确(que)性。*的光路(lu)自動校對(duì)系統、幹濕(shī)一鍵切換(huan)系統、幹法(fa)電腦遠端(duan)控制喂料(liao)系統等精(jīng)心設計彰(zhāng)顯出LAP-DW2000*優勢。
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